組件衰減率指組件初始功率和組件當前大輸出功率的差值和組件初始功率的比值，計算衰減率的關(guān)鍵就在組件初始功率和組件當前大輸出功率這兩個(gè)參數的測量。

計算公式為：衰減率=組件初始功率/(組件初始功率-組件當前大輸出功率)*100%

組件初始功率

是組件出廠(chǎng)測試得到的大輸出功率，是組件工廠(chǎng)實(shí)驗室太陽(yáng)光模擬器測試得到。影響組件出廠(chǎng)測試的主要因素：1）環(huán)境溫度：由空調控制在25±2℃；2）測試設備：太陽(yáng)模擬器等級要求為AA*；3）校準及標準組件：利用經(jīng)標定的標準組件對太陽(yáng)模擬器進(jìn)行校準，從而對測試結果進(jìn)行修正。

組件當前大輸出功率

指組件在運行一段時(shí)間后測得的大輸出功率。通常應排除如灰塵遮擋、組件缺陷等影響因素，測試組件本身的大輸出功率。在戶(hù)外測試組件大輸出功率，主要影響因素有以下幾點(diǎn)：

1）測試輻照度：對于線(xiàn)性器件應在不低于800W/m2 的輻照度下進(jìn)行測試;

 2）測試溫度：對于一般背板結構單玻組件，由背板溫度反映電池結溫; 

3）太陽(yáng)光譜：不同地區和環(huán)境會(huì )有不同的太陽(yáng)光譜，測量時(shí)應與 AM 1.5 的光譜值進(jìn)行修正; 

4）組件入射角度：不同光照角度影響組件的發(fā)電性能，測量時(shí)應考慮入射角對測試結果的影響; 

5）測試設備：手持式戶(hù)外測試設備，需與輻照測試和溫度測試設備共同使用; 

6）參考器件：通常為封裝良好的 WPVS; 

7）測試結果修正：根據 IEC60891 標準將戶(hù)外的輻照度和溫度修正至 STC條件下的結果。